Máy kiểm tra độ dầy và thành phần lớp phủ FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600

Thiết bị đo XRF đáp ứng các tiêu chuẩn tia X DIN ISO 3497 và ASTM B 568

Phân tích vật liệu không phá hủy và đo độ dày lớp phủ của các lớp phủ rất mỏng

Bộ xử lý xung kỹ thuật số Fischer DPP + và đầu do cao cấp SSD với độ phân giải cao cho độ chính xác cao và thời gian đo ngắn

khẩu độ: có 4 sự lựa chọn. Kích thước điểm đo có thể thay đổi (ống chuẩn trực): Ø 0,1 mm (3,9 mils), Ø 0,3 mm (11,8 mils), Ø 1 mm (39,4 mils), Ø 3 mm (118 mils)

Bộ lọc có thể thay đổi giữa 3 loại

Bàn mẫu có thể điều chỉnh bằng tay (bàn kéo) để định vị mẫu nhanh chóng và dễ dàng

Con trỏ laser như một tính năng hỗ trợ định vị giúp căn chỉnh mẫu nhanh chóng

Camera màu có độ phân giải cao giúp đơn giản hóa việc xác định chính xác vị trí đo

Vận hành, đánh giá các phép đo và trình bày rõ ràng các giá trị đo thông qua phần mềm Fischer WinFTM thân thiện với người dùng

Ứng dụng

Lớp phủ chức năng trên khung chì, đầu kết nối hoặc bảng mạch in trong ngành công nghiệp điện tử và bán dẫn

Xác định độ dày trong hệ thống nhiều lớp mạ phức tạp

Xác định hàm lượng chì trong thuốc hàn

Xác định hàm lượng phốt pho trong lớp phủ NiP