brand_1_title
brand_2_title
brand_3_title
brand_4_title
brand_5_title
brand_6_title
brand_7_title
brand_8_title
brand_9_title
brand_10_title
Được hỗ trợ bởi google Dịch
 
TTSONE - Biến tầm nhìn thành hiện thực TTSONE - Biến tầm nhìn thành hiện thực
TIN TỨC - SỰ KIỆN Tra cứu đơn hàng
TTSONE - Biến tầm nhìn thành hiện thực TRA CỨU CỬA HÀNG
DANH MỤC SẢN PHẨM
DANH MỤC SẢN PHẨM

Tư vấn bán hàng

0865 392 066 | 0962 385 553
Còn hàng
Shop bán những sản phẩm giá cực kì tốt và có tính cạnh tranh cao so với các shop khác, sản phẩm rất chi hài lòng
Máy kiểm tra độ dầy và thành phần lớp phủ FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600
Máy kiểm tra độ dầy và thành phần lớp phủ FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600

Máy kiểm tra độ dầy và thành phần lớp phủ FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600

Thương hiệu: FISCHER
Mã đặt hàng: XRAYXDAL600-125
Tồn kho: Yêu cầu đặt hàng
Còn hàng
Giá:
Liên hệ mua hàng
Quý khách bấm ảnh QR QUAN TÂM kênh Zalo TTS để nhận tin báo đơn hàng.
Kinh doanh: 0865 392 066 | 0962 385 553
Kỹ thuật:
In báo giá In báo giá giỏ hàng Liên hệ báo giá
  • Chi Tiết Sản Phẩm

Thiết bị đo XRF đáp ứng các tiêu chuẩn tia X DIN ISO 3497 và ASTM B 568

Phân tích vật liệu không phá hủy và đo độ dày lớp phủ của các lớp phủ rất mỏng

Bộ xử lý xung kỹ thuật số Fischer DPP + và đầu do cao cấp SSD với độ phân giải cao cho độ chính xác cao và thời gian đo ngắn

khẩu độ: có 4 sự lựa chọn. Kích thước điểm đo có thể thay đổi (ống chuẩn trực): Ø 0,1 mm (3,9 mils), Ø 0,3 mm (11,8 mils), Ø 1 mm (39,4 mils), Ø 3 mm (118 mils)

Bộ lọc có thể thay đổi giữa 3 loại

Bàn mẫu có thể điều chỉnh bằng tay (bàn kéo) để định vị mẫu nhanh chóng và dễ dàng

Con trỏ laser như một tính năng hỗ trợ định vị giúp căn chỉnh mẫu nhanh chóng

Camera màu có độ phân giải cao giúp đơn giản hóa việc xác định chính xác vị trí đo

Vận hành, đánh giá các phép đo và trình bày rõ ràng các giá trị đo thông qua phần mềm Fischer WinFTM thân thiện với người dùng

Ứng dụng

Lớp phủ chức năng trên khung chì, đầu kết nối hoặc bảng mạch in trong ngành công nghiệp điện tử và bán dẫn

Xác định độ dày trong hệ thống nhiều lớp mạ phức tạp

Xác định hàm lượng chì trong thuốc hàn

Xác định hàm lượng phốt pho trong lớp phủ NiP

Thiết bị đo XRF đáp ứng các tiêu chuẩn tia X DIN ISO 3497 và ASTM B 568

Phân tích vật liệu không phá hủy và đo độ dày lớp phủ của các lớp phủ rất mỏng

Bộ xử lý xung kỹ thuật số Fischer DPP + và đầu do cao cấp SSD với độ phân giải cao cho độ chính xác cao và thời gian đo ngắn

khẩu độ: có 4 sự lựa chọn. Kích thước điểm đo có thể thay đổi (ống chuẩn trực): Ø 0,1 mm (3,9 mils), Ø 0,3 mm (11,8 mils), Ø 1 mm (39,4 mils), Ø 3 mm (118 mils)

Bộ lọc có thể thay đổi giữa 3 loại

Bàn mẫu có thể điều chỉnh bằng tay (bàn kéo) để định vị mẫu nhanh chóng và dễ dàng

Con trỏ laser như một tính năng hỗ trợ định vị giúp căn chỉnh mẫu nhanh chóng

Camera màu có độ phân giải cao giúp đơn giản hóa việc xác định chính xác vị trí đo

Vận hành, đánh giá các phép đo và trình bày rõ ràng các giá trị đo thông qua phần mềm Fischer WinFTM thân thiện với người dùng

Ứng dụng

Lớp phủ chức năng trên khung chì, đầu kết nối hoặc bảng mạch in trong ngành công nghiệp điện tử và bán dẫn

Xác định độ dày trong hệ thống nhiều lớp mạ phức tạp

Xác định hàm lượng chì trong thuốc hàn

Xác định hàm lượng phốt pho trong lớp phủ NiP

Xem thêm Thu gọn
Tải file Máy kiểm tra độ dầy và thành phần lớp phủ FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600

Đánh giá

THÔNG TIN CÔNG TY

Chính sách công ty

Hướng dẫn mua hàng

Fanpage

TTSONE - Biến tầm nhìn thành hiện thực

Công ty TNHH thương mại công nghệ và kỹ thuật TTS

Nhận tin khuyến mãi

- Ưu đãi đặc biệt: ĐỔI MỚI SP miễn phí trong 45 ngày
- Bao giá hàng trong 7 ngày
- Ưu đãi trả góp lãi suất 0%
Chat với TTS
Bạn cần hỗ trợ
Ưu đãi
Nhận ngay
0865 392 066
Mua hàng
0962 385 553
Mua hàng
Hotline:
02466 748 728
Gọi ngay
Trang chủ
Danh mục
Giỏ hàng
Tin tức
Yêu thích
Danh sách so sánh

Giỏ hàng